Abberior STED-FLIM
超分辨-荧光寿命周期成像分析(STED-FLIM)
共聚焦-荧光寿命周期成像分析(Confocal-FLIM)详细介绍
从活体样本的细微结构中, 实现动态的超分辨荧光寿命分析.
FLIM 是依据荧光衰减常数 ( fluorescence decay constant, τ ) 而产生图像的一种技术. 荧光分子在接受一定能量的光子后，会跃迁至激发态， 然后, 在很短的时间内 (10-9 - 10-7秒) 回到基态，在这过程中会将接收的能量以光 (荧光) 或热的形式释放出来， 然而荧光的强度会以指数衰减的方式迅速递减。这个荧光衰减常数(亦称为荧光寿命周期)， 是每个分子的固有特性，因此荧光寿命周期分析技术与光学显微镜之整合，可以帮助我们辨别细胞上不同组成分子的空间分布信息. 而超分辨纳米级的STED-FLIM,在共聚焦脉冲式STED超分辨基础上, 在导入时间相关单光子计数 (TCSPC) 技术, 实现多通道的荧光寿命超分辨成像与分析. 同时兼容超细微结构的解析, 研究人员应用荧光衰减常数τ (Tau) 可以分辨出更清新的影像. 并从中分析FLIM, 不仅静态的生物结构可以清晰的探知, 也可在活细胞的动态生物信息, 从超细微结构里取得隐失的重要信息.
Abberior STED FLIM 系统, 采用时间相关单光子计数 (TCSPC) 技术以优于 40 nm的空间分辨率记录 FLIM 数据。
图像可以大到2048 x 2048像素，每像素具有 256个时间通道。
因此，可以用20 nm像素尺寸覆盖40×40微米的图像区域，完全满足奈奎斯特准则(Nyquist criterion)。 使用较少数量的时间通道甚至可以实现更大的像素数。
该系统实现了每个FLIM通道超过5 MHz的峰值计数率， 从而实现了更好的信噪比和更短的采集时间。
活细胞膜张力荧光寿命周期量测
Real Time Membrane Tension Measurements in Live Cells.
细胞和胞器由双层脂质分隔，其中高变形性对于许多细胞过程是必需的，包括运动性，内吞作用和细胞分裂。因此，膜张力是重塑膜的细胞过程的主要调节剂，在体内非常难以测量。
STED-FLIM超分辨成像可以通过 Flipper-TR (活细胞荧光膜张力探针 – 此探针的生命周期是依赖于膜张力的改变) 的荧光寿命周期, 实现活细胞的实时膜张力测量的时空分布. 适用于多种生物活细胞, 细菌, 酵母, 哺乳动物.